集成电路芯片、分立器件、晶体管等元器件的耐湿性测试

HAST一般称为高加读温湿度应力试验或是高加速应力试验，科睿检测HAST测试实验室通过施加严酷的温度、湿度并提高水汽压力，水汽通过封装材料或管脚渗透，用来评价元器件在潮湿环境中的可靠性，REI检测拥有专业资质、经验丰富的技术专家团队，同时可根据客户的技术需求，定制推荐合理的测试方案。

服务内容

一、适用测试标准

GB/T 2423.40/IEC 60068-66系列电工电子产品环境试验 试验C:未饱和高压蒸汽恒定湿热JESD22-A110高加速温湿度应力试验

JESD22-A118加速防潮-无偏置高加速温湿度应力试验

AEC-Q汽车零部件车规级标准

二、适用产品范围

集成电路IC、晶体管、MOS管、电阻、电容、电感、LED、光伏元件、机电元件、传感器等。

三、测试方法

U-HAST:无偏压高加速温湿度应力试验，是测试电镀和直接化学腐蚀的 方法。

B-HAST:偏压高加速温湿度应力试验，与温湿度偏压试验(THB)对产品的破坏机理一致，是THB的加速测试，测试时器件必须以最小的功耗运行。

*注：120℃/85%RH条件仅标准GB/T 2423.40/IEC 60068-66适用